一种提高批量老化效率的回馈式老化测试设备
授权
摘要

本实用新型实施例公开了一种提高批量老化效率的回馈式老化测试设备,包括机箱,机箱上设置有电能输入接口、测试待测设备电路参数的通讯测试接口、两处电能传递的电路接口、触摸屏、控制按钮以及扫码枪,机箱内设置有储存模块、测试模块、回馈负载模块、标记模块、输出显示模块、控制模块;标记模块从扫码枪上接收产品的标记,将储存模块从通讯测试接口接收的电路参数和标记对应记载,回馈负载模块与储存模块电连接,输出显示模块与储存模块连接。采用了回馈负载设计,替代热耗型电子负载,能够节约85%以上的电能,绿色节能环保,并且通过扫码枪标记测试,能够对产品老化测试数据存档记录,每个产品的数据可追溯,提高了效率。

基本信息
专利标题 :
一种提高批量老化效率的回馈式老化测试设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921055670.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-08
授权号 :
CN210427763U
授权日 :
2020-04-28
发明人 :
陆峰
申请人 :
上海文顺电器有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区沈梅路290号
代理机构 :
北京知呱呱知识产权代理有限公司
代理人 :
苏利
优先权 :
CN201921055670.8
主分类号 :
G01R31/40
IPC分类号 :
G01R31/40  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/40
•测试电源
法律状态
2020-04-28 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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