一种仪表盘支架检测系统
专利申请权、专利权的转移
摘要

本实用新型公开了一种仪表盘支架检测系统,以提高仪表盘支架的检测效率,以及产品良率。该仪表盘支架检测系统,包括:多个摄像装置,摄像装置安装架,支撑架,比较装置以及显示装置,其中:多个摄像装置安装于摄像装置安装架,多个摄像装置界定出拍摄区;支撑架,用于支撑仪表盘支架,并将仪表盘支架运送至拍摄区,多个摄像装置用于对仪表盘支架进行拍摄;比较装置,用于对摄像装置的拍摄结果与设定数据进行比较;显示装置,用于显示拍摄结果与设定数据的比较结果。

基本信息
专利标题 :
一种仪表盘支架检测系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921068007.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-09
授权号 :
CN210742145U
授权日 :
2020-06-12
发明人 :
陈海波
申请人 :
深兰科技(上海)有限公司
申请人地址 :
上海市长宁区威宁路369号1001单元(实际楼层9楼)
代理机构 :
北京同达信恒知识产权代理有限公司
代理人 :
郭润湘
优先权 :
CN201921068007.1
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-04-12 :
专利申请权、专利权的转移
专利权的转移IPC(主分类) : G01N 21/88
登记生效日 : 20220331
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 深兰科技(上海)有限公司
变更后权利人 : 深兰智能科技(上海)有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 200336 上海市长宁区威宁路369号1001单元(实际楼层9楼)
变更后权利人 : 200000 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区临港新片区环湖西二路888号C楼
2020-06-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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