一种超微量元素分析仪用可调节底座
授权
摘要
本实用新型公开了一种超微量元素分析仪用可调节底座，包括底座，所述底座的顶部设置有支撑板，所述支撑板的顶部固定连接有分析仪本体。本实用新型通过设置底座、支撑板、分析仪本体、动力槽、电机、螺杆、螺套、第一传动杆、第一连接块、第二传动杆、第二连接块、传动板和调节柱的配合使用，解决了现有的超微量元素分析仪在使用时不能对超微量元素分析仪进行高度的调节，导致使用者不能将超微量元素分析仪调节至适合使用者操作的高度，从而造成使用者操作超微量元素分析仪的舒适度降低的问题，该超微量元素分析仪用可调节底座，具备可调节高度的优点，便于使用者的使用，提高了超微量元素分析仪的实用性。
基本信息
专利标题 ：
一种超微量元素分析仪用可调节底座
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921081574.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-11
授权号 ：
CN210534167U
授权日 ：
2020-05-15
发明人 ：
沈恒文林旭斌金修领吉双平郝小峰刘彤辉
申请人 ：
江苏艾匹克半导体设备有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市滨湖区青龙山联合工业园108号
代理机构 ：
北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
黄冠华
优先权 ：
CN201921081574.0
主分类号 ：
G01N35/00
IPC分类号 ：
G01N35/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N35/00
不限于用G01N1/00至G01N33/00中任何单独一组提供的方法或材料所进行的自动分析；及材料的传送
法律状态
2020-05-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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