高精密电子天平
授权
摘要
本实用新型公开了一种高精密电子天平，通过将称量盘利用滑槽和方形滑块的作用从侧面滑出的方式进行样品放置，相比于打开风罩侧门放置样品的方式，本专利的技术在操作时动作幅度小，滑动的整个过程非常平顺，震动小，外界气流对风罩内部的扰动也非常小，能够使测量结果具有更高的精度和稳定性，有效避免了数据波动。
基本信息
专利标题 ：
高精密电子天平
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921082061.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-11
授权号 ：
CN210625837U
授权日 ：
2020-05-26
发明人 ：
吴琳胡汉高李盈
申请人 ：
武汉海谱生物医药科技有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区东一产业园光谷大道金融后台服务中心基地建设项目二期B5幢16层2号02室
代理机构 ：
南京纵横知识产权代理有限公司
代理人 ：
徐瑛
优先权 ：
CN201921082061.1
主分类号 ：
G01G21/28
IPC分类号 ：
G01G21/28 G01G21/02 G01G21/23
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01G
称量
G01G21/00
称量仪器的零部件
G01G21/28
框架；外罩
法律状态
2020-05-26 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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