一种荧光磁粉探伤设备荧光装置
授权
摘要
本实用新型涉及探伤设备领域，尤其涉及一种荧光磁粉探伤设备荧光装置，该装置的灯罩可以调节角度，且设有与支承杆配合的移动机构，有效解决背景技术中提出的问题。包括灯罩和内部呈30‑90度安装的紫外灯管，且灯罩下方设有菲涅尔透镜，所述的灯罩顶部设有角度调节机构，所述的角度调节机构与横杆外端部固定连接，所述的横杆内端部与支承杆侧面固定连接，所述的支承杆底部的工作台上设有与支承杆配合的移动机构；所述的支承杆上设有与菲涅尔透镜配合的固定结构。它操作简单，使用方便，适用于多种场所。
基本信息
专利标题 ：
一种荧光磁粉探伤设备荧光装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921093629.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-12
授权号 ：
CN210742152U
授权日 ：
2020-06-12
发明人 ：
孙迪一
申请人 ：
盐城捷特拉克无损检测设备有限公司
申请人地址 ：
江苏省盐城市射阳县合德镇红旗西路19号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201921093629.X
主分类号 ：
G01N21/91
IPC分类号 ：
G01N21/91 G01N27/84
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/91
利用染料的渗透性，例如荧光墨水
法律状态
2020-06-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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