产线线损测试系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种产线线损测试系统，其包括控制器、功率计、HUB和IQXEL测试仪，功率计的第一端口和IQXEL测试仪的第一端口经由HUB连接，待测线缆的两端分别连接至功率计的第二端口和IQXEL测试仪的第二端口；IQXEL测试仪被配置为能够接收控制器发出的指令，从而自其第一端口和第二端口输出具有相同的输出功率的输出信号，功率计被配置为能够分别测量其第一端口和第二端口的输入信号的输入功率值。根据本实用新型的产线线损测试系统，通过采用功率计及IQXEL测试仪进行线损测试，而可以避免使用网分测试仪，并且在线损测试中可以缩短产线停线时间，降低成本，提高生产效率。
基本信息
专利标题 ：
产线线损测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921096731.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-11
授权号 ：
CN210442451U
授权日 ：
2020-05-01
发明人 ：
吴家林
申请人 ：
上海剑桥科技股份有限公司
申请人地址 ：
上海市闵行区陈行公路2388号8幢501室
代理机构 ：
上海弼兴律师事务所
代理人 ：
胡美强
优先权 ：
CN201921096731.5
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-05-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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