稳态法测量不良导体导热系数实验装置
授权
摘要
本实用新型提供了一种稳态法测量不良导体导热系数实验装置，涉及导热系数测量的技术领域，包括：加散热装置，温度采集器、计算机；加散热装置包括加热盘及散热盘；加热盘包括第一温度传感器；散热盘包括第二温度传感器；温度采集器与计算机相连。本实用新型利用计算机对温度采集器采集的数据进行计算，减少了人为因素对导热系数测量结果的影响，同时本实用新型提供的装置配有热流传感器以及电压表，简化了实验流程，同时在热流传感器的上表面以及热流传感器的下表面均覆有导热材料，并在待测样品侧面覆有隔热材料以减少实验过程中的热量损失，提高了导热系数结果的准确性。
基本信息
专利标题 ：
稳态法测量不良导体导热系数实验装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921103538.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-15
授权号 ：
CN210604469U
授权日 ：
2020-05-22
发明人 ：
张国尚陈逸飞李文清
申请人 ：
中国民航大学
申请人地址 ：
天津市东丽区津北公路2898号
代理机构 ：
天津才智专利商标代理有限公司
代理人 ：
庞学欣
优先权 ：
CN201921103538.X
主分类号 ：
G01N25/20
IPC分类号 ：
G01N25/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N25/00
应用热方法测试或分析材料
G01N25/20
通过测量热的变化，即量热法，例如通过测量比热，测量热导率
法律状态
2020-05-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
