一种超声波测厚仪
授权
摘要

本实用新型公开了一种超声波测厚仪,包括检测本体,探头,所述探头和检测本体之间通过连接线一端的插头插入检测本体实现连接安装;其特征在于:所述检测本体底部可拆卸固定有支架,所述支架通过至少三根高度、角度均可调节的支撑杆来支撑于所需放置面。本实用新型相比现有技术具有以下优点:本实用新型中的支架可以通过自身高度及相对放置面的角度来调节合适且比较稳定的状态来实现对支架上方检测本体的固定安放,可以适用于凹凸不平的放置面,适应范围广;在不使用探头检测时,可以将连接线及探头固定于检测本体的背面,方便收纳。

基本信息
专利标题 :
一种超声波测厚仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921124232.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-18
授权号 :
CN210180402U
授权日 :
2020-03-24
发明人 :
汪学红吕姣姣
申请人 :
安徽大华检测技术有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市高新区纬五路与香樟大道交口深港数字化产业园3幢E单元
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN201921124232.2
主分类号 :
G01B17/02
IPC分类号 :
G01B17/02  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B17/00
以采用次声波、声波、超声波振动为特征的计量设备
G01B17/02
用于计量厚度
法律状态
2020-03-24 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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