一种转盘式Demura检测线
授权
摘要
本实用新型公开了一种转盘式Demura检测线，其包括导轨，导轨至少一侧设置有多个沿其长度方向间隔布置的暗室，每个暗室内设置有Mura补偿装置，导轨上滑动配合连接有用于移送待测件的机械抓手，机械抓手位于导轨与暗室之间，机械抓手和暗室的下方设置有转盘，转盘上沿其周向设置有多组待测件定位工装。本实用新型能够有效地实现显示面板的全自动化批量检测且无需人工上下料，从而有效地提高了显示面板的检测效率。
基本信息
专利标题 ：
一种转盘式Demura检测线
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921126589.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-18
授权号 ：
CN210742405U
授权日 ：
2020-06-12
发明人 ：
周小培
申请人 ：
武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号
代理机构 ：
武汉开元知识产权代理有限公司
代理人 ：
黄行军
优先权 ：
CN201921126589.4
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-06-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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