测量细小薄带凹节的测量装置
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摘要

本实用新型揭示了测量细小薄带凹节的测量装置,该测量装置包括光源、光电接收管、采样和放大电路、单片机系统,所述光源与光电接收管均放置于暗室内,光源与光电接收管之间设一中间有孔的遮光板,细小薄带贯穿于暗室内,并在光源与光电接收管之间沿水平方向自由移动,光源与光电接收管间隙设置,光源设置于光电接收管的正上方,光源发出光束垂直照射于细小薄带上,光电接收管与采样和放大电路电性连接,采样和放大电路与单片机系统电性连接。利用细小薄带节处的面积和其他处细小薄带上的面积有差值,利用这个面积差实现遮挡光源,在光电管上形成不同的光照强度,最后得到一个与光照强度成正比的电压,通过这个电压值实现判断节的位置。

基本信息
专利标题 :
测量细小薄带凹节的测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921138633.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-19
授权号 :
CN210108264U
授权日 :
2020-02-21
发明人 :
李云宏
申请人 :
上海磊跃自动化设备有限公司
申请人地址 :
上海市普陀区同普路1175弄18号二层201室
代理机构 :
南京苏科专利代理有限责任公司
代理人 :
范丹丹
优先权 :
CN201921138633.3
主分类号 :
G01B11/00
IPC分类号 :
G01B11/00  G01B11/30  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2020-02-21 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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