一种CT材料分析装置
授权
摘要
本实用新型提出一种CT材料分析装置，包括控制显示器、机箱壳、第一调控板和第二调控板，控制显示器设于机箱壳外侧，第一调控板和第二调控板相对的设于机箱壳内侧，第一调控板上设有第一导轨，第二调控板上设有第二导轨，机箱壳内底侧设有第三导轨，第一导轨、第二导轨和第三导轨均互相平行；机箱壳的侧壁上设有翻开门，翻开门内侧设有与第三导轨端部相接的第四导轨；第一导轨上设有第一驱动电机和检测屏，第二导轨上设有第二驱动电机和检测信号屏，第三导轨上设有第三驱动电机和测料平台，检测屏、测料平台和检测信号屏均位于同一水平高度；检测屏、测料平台、检测信号屏、第一驱动电机、第二驱动电机、第三驱动电机均与控制显示器电性连接。
基本信息
专利标题 ：
一种CT材料分析装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921153763.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-22
授权号 ：
CN210834722U
授权日 ：
2020-06-23
发明人 ：
顾明月顾浩王训清吴强陈泽何春燕陈鸣鸿
申请人 ：
上海伟伦数影检测技术有限公司
申请人地址 ：
上海市奉贤区海杰路777号2幢
代理机构 ：
上海邦德专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
袁步兰
优先权 ：
CN201921153763.4
主分类号 ：
G01N23/046
IPC分类号 ：
G01N23/046 G01N21/31
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
G01N23/046
应用X光断层技术，如计算机X光断层技术
法律状态
2020-06-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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