一种伸长率试验仪校准装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种伸长率试验仪校准装置，一种伸长率试验仪校准装置，包括测量机构、传动机构、锁定机构和支架；测量机构包括拉线盒编码器和显示器，拉线盒编码器固定于支架上；拉线盒编码器和显示器之间通过编码器电缆连接；拉线盒编码器内可伸缩地设置有拉线，拉线的一端固定连接于所述拉线盒编码器内，另一端设置有连接部；拉线拉伸后用于通过连接部固定于所述锁定机构上；传动机构固定于所述支架上，传动机构包括导向机构，拉线拉伸后经所述导向机构导向；锁定机构用于连接待测伸长率试验仪的活动块。本实用新型结构设计合理，将测量机构、传动机构和锁定机构整合在一起，操作更加方便，且测量精度更高。
基本信息
专利标题 ：
一种伸长率试验仪校准装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921172452.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-24
授权号 ：
CN210664362U
授权日 ：
2020-06-02
发明人 ：
吴建平
申请人 ：
苏州市计量测试院
申请人地址 ：
江苏省苏州市吴中区文曲路69号
代理机构 ：
广州三环专利商标代理有限公司
代理人 ：
郝传鑫
优先权 ：
CN201921172452.2
主分类号 ：
G01B11/16
IPC分类号 ：
G01B11/16
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/16
用于计量固体的变形，例如光学应变仪
法律状态
2020-06-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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