位置度角度公差检具
授权
摘要
一种位置度角度公差检具，其包括固定基座、安装在所述固定基座上的滑动测量块、用以驱动所述滑动测量块移动的驱动部以及用以将所述滑动测量块进行锁定的锁定机构，其中所述滑动测量块包括用于检测待检测物件的位置度公差的刻度以及用于检测待检测物件的角度公差的刻度。相较于现有技术，本实用新型能够对检测待检测物件的位置度公差以及角度公差同时进行测量，提高了效率。
基本信息
专利标题 ：
位置度角度公差检具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921176734.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-23
授权号 ：
CN210036515U
授权日 ：
2020-02-07
发明人 ：
吴晓峰齐旺明印仁军
申请人 ：
上海天纳克排气系统有限公司
申请人地址 ：
上海市嘉定区嘉松北路3218号
代理机构 ：
苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
杨林洁
优先权 ：
CN201921176734.X
主分类号 ：
G01B5/00
IPC分类号 ：
G01B5/00 G01B5/24
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
法律状态
2020-02-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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