一种分析效率高的原子荧光形态分析仪
授权
摘要
本实用新型公开了一种分析效率高的原子荧光形态分析仪,包括壳体,壳体顶部的左侧固定连接有遮光罩,且遮光罩的顶部固定连接有检测探头,壳体的顶部转动连接有托盘,本实用新型涉及原子荧光形态分析仪技术领域。该分析效率高的原子荧光形态分析仪,利用转柄配合转轴,可带动托盘转动,而托盘上的四个试剂瓶放置槽均可放置试剂瓶,进而在位于遮光罩内部的两个试剂瓶进行检测时,位于外部的两个试剂瓶放置槽可提前放好试剂瓶,在检测完毕后可快速替换,进而达到连续检测的效果,省去了更换的时间,且同时检测两个样品,也提高了工作效率,而设置蜂鸣器更可在检测结束前,提前提醒工作人员过来准备,再次省去了不必要的时间。
基本信息
专利标题 :
一种分析效率高的原子荧光形态分析仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921206442.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-29
授权号 :
CN210742130U
授权日 :
2020-06-12
发明人 :
李阳张学军黄丽杰
申请人 :
摩天众创(天津)检测服务有限公司
申请人地址 :
天津市东丽区东丽开发区一纬路24号东谷园2号楼2层-3层
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN201921206442.6
主分类号 :
G01N21/64
IPC分类号 :
G01N21/64 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光;磷光
法律状态
2020-06-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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