一种布氏硬度压痕测量读数显微镜支架
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摘要

一种布氏硬度压痕测量读数显微镜支架,包括支架底座、支撑调节架,支撑调节架包括立架、顶板,立架底部与支架底座滑动连接,可相对于支架底座前后滑动;顶板的一端滑动连接于立架的顶部,可相对于立架左右滑动;读数显微镜通过架套安装于顶板的另一端,顶板上设有安装架套的螺纹通孔,架套外壁设有外螺纹,该架套螺纹连接于螺纹通孔内;读数显微镜下方设有用于夹持试样的左、右可旋式夹持手柄,左、右可旋式夹持手柄分别螺纹旋入左、右侧立板并相向布置。使用时,可对读数显微镜进行前后、左右、上下位置的调节,提高了读数显微镜支架的使用便捷性和准确性,具有广阔的市场空间。

基本信息
专利标题 :
一种布氏硬度压痕测量读数显微镜支架
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921209759.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-30
授权号 :
CN210294665U
授权日 :
2020-04-10
发明人 :
姜世杭蒋一鸣许诺王笃雄丁晓亮
申请人 :
扬州大学
申请人地址 :
江苏省扬州市大学南路88号
代理机构 :
扬州苏中专利事务所(普通合伙)
代理人 :
许必元
优先权 :
CN201921209759.5
主分类号 :
G02B21/00
IPC分类号 :
G02B21/00  G02B21/24  G02B21/36  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02B
光学元件、系统或仪器附注
G02B21/00
显微镜
法律状态
2020-04-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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