一种基于磁电测量的千分表

授权

摘要

本实用新型涉及测量仪器领域，具体涉及一种基于磁电测量的千分表，测量杆，用于与被测物体相接触，且能够轴向移动；粗测组件，包括磁体和至少一个磁敏元件，磁体与测量杆相连接，磁敏元件通过接收磁体的磁性量来测量粗读数；精测组件，用于根据测量杆的轴向位移来测量精读数，精测组件与测量杆相配合。本申请的一种基于磁电测量的千分表，分别利用粗测组件来测量粗读数，以及精测组件测量精读数，以降底装配难度及装配成本，同时，粗读数的测量不受突然断电或者遇到电磁干扰的影响，测以避免重新测量粗读数，从而，减少了重新测量被测读数的工作量，减少了因重测而造成的测量成本。

基本信息

专利标题：

一种基于磁电测量的千分表

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921231426.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-07-31

授权号：

CN210089522U

授权日：

2020-02-18

发明人：

唐臻宇王佶

申请人：

成都太微电子科技有限公司

申请人地址：

四川省成都市高新区新雅中街26号附2号3层

代理机构：

四川力久律师事务所

代理人：

刘童笛

优先权：

CN201921231426.2

主分类号：

G01B3/22

IPC分类号：

G01B3/22