一种基于光电测量的千分表
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摘要

本实用新型涉及测量仪器领域,具体涉及一种基于光电测量的千分表,包括:至少一组光敏组件,光敏组件包括对应设置的光源和光源接收部件,光源用于发射光束、光源接收部件用于接收光束;测量杆,能够沿自身轴向移动,测量杆上连接有遮光板,遮光板通过阻断光敏组件中的光束来测量粗读数。本方案所述的一种基于光电测量的千分表,通过测量杆同时带动光敏组件和精测组件分别粗读数和精读数,最后合成被测数据,稳定性好,装配简单,装配成本低,同时,能够避免在计数中断后重新测量粗读数,减少了重新测量被测读数的工作量,减少了因重测而造成的测量成本。

基本信息
专利标题 :
一种基于光电测量的千分表
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921231429.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-31
授权号 :
CN210070775U
授权日 :
2020-02-14
发明人 :
唐臻宇王佶
申请人 :
成都太微电子科技有限公司
申请人地址 :
四川省成都市高新区新雅中街26号附2号3层
代理机构 :
四川力久律师事务所
代理人 :
刘童笛
优先权 :
CN201921231429.6
主分类号 :
G01B3/22
IPC分类号 :
G01B3/22  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B3/1094
用于记录信息或执行计算
G01B3/22
触针量规,例如千分表
法律状态
2020-02-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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