高度测量装置
授权
摘要

本实用新型提供一种高度测量装置,其包括有,平台,用于放置被测物体;杆柱,垂直固定于所述平台;位移记录装置,所述位移记录装置固定到一夹具,所述夹具嵌套固定至所述杆柱,所述位移记录装置用于表示其在所述杆柱上的位移;压力计,所述压力计固定至所述夹具,并包括有一垂直投影到所述平台的上端面的探针。一方面,通过设置压力计参与测量,可以避免因操作人员手感不同而造成的误差,另一方面,本高度测量装置不需要使用光栅尺等贵重器件,降低了装置的成本。

基本信息
专利标题 :
高度测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921231477.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-31
授权号 :
CN210180344U
授权日 :
2020-03-24
发明人 :
蔡云
申请人 :
上海东培企业有限公司
申请人地址 :
上海市松江区松江工业区荣乐东路1555号
代理机构 :
上海弼兴律师事务所
代理人 :
胡美强
优先权 :
CN201921231477.5
主分类号 :
G01B5/06
IPC分类号 :
G01B5/06  G01B7/30  G01B21/08  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
G01B5/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B5/06
用于计量厚度
法律状态
2020-03-24 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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