一种基于磁场方向测量的高精度数显角度尺
授权
摘要
本实用新型涉及测量仪器领域，具体涉及一种基于磁场方向测量的高精度数显角度尺，包括精测装置、放大装置和粗测装置，其中，放大装置包括精测齿轮和中心齿轮，中心齿轮能够带动精测齿轮转动，中心齿轮的角速度小于精测齿轮的角速度，第一旋转磁体组件和第一磁场检测组件其中之一与精测齿轮相连接，另一个与旋转体相连接，中心齿轮用于和基座一起转动连接于旋转体上；本申请的一种基于磁场方向测量的高精度数显角度尺，通过粗测装置测得一定精度要求的被测角度，再通过放大装置和精测装置测得被测数据中的更高精度部分，之后合成为最终的被测角度，即可达到更高的精度，以满足某些领域使用角度尺的精度要求。
基本信息
专利标题 ：
一种基于磁场方向测量的高精度数显角度尺
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921233358.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-31
授权号 ：
CN210720702U
授权日 ：
2020-06-09
发明人 ：
唐臻宇王佶冉启昌冉启忠
申请人 ：
成都太微电子科技有限公司;都江堰市大阳量具有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市高新区新雅中街26号附2号3层
代理机构 ：
四川力久律师事务所
代理人 ：
刘童笛
优先权 ：
CN201921233358.3
主分类号 ：
G01R33/02
IPC分类号 ：
G01R33/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
G01R33/02
测量磁场或磁通量的方向或大小
法律状态
2020-06-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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