一种基于电阻测量的千分表
授权
摘要
本实用新型涉及测量仪器领域，具体涉及一种基于电阻测量的千分表，包括：电阻体；测量杆，与被测物体相接触，且能够沿自身轴向移动，测量杆上设置有电刷，测量杆轴向移动时，电刷通过沿电阻体电阻增减方向与电阻体滑动配合来测量粗读数；精测组件，用于根据测量杆的轴向位移来测量精读数。本申请的一种基于电阻测量的千分表，分别利用电刷通过沿电阻体电阻增减方向与电阻体滑动配合来测量粗读数，以及精测组件测量精读数，以降底装配难度及装配成本，同时，粗读数的测量不受突然断电或者遇到电磁干扰的影响，以避免重新测量粗读数，从而，减少了重新测量被测读数的工作量，减少了因重测而造成的测量成本。
基本信息
专利标题 ：
一种基于电阻测量的千分表
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921233359.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-31
授权号 ：
CN210089523U
授权日 ：
2020-02-18
发明人 ：
王佶唐臻宇
申请人 ：
成都太微电子科技有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市高新区新雅中街26号附2号3层
代理机构 ：
四川力久律师事务所
代理人 ：
刘童笛
优先权 ：
CN201921233359.8
主分类号 ：
G01B3/22
IPC分类号 ：
G01B3/22
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B3/1094
用于记录信息或执行计算
G01B3/22
触针量规，例如千分表
法律状态
2020-02-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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