一种基于磁致位移传感器的多点位移测量系统
授权
摘要
本实用新型涉及一种基于磁致位移传感器的多点位移测量系统，使用基于磁致位移原理的位移传感器，能够通过一支探测杆搭配任意所需数量磁体的方式实现钻孔内多个测点的位移变化测量，解决了现有技术单支传感器只能测量单一测点位移的问题，具有量程大、测量精度高、结构简单、易安装、免调试等优点。
基本信息
专利标题 ：
一种基于磁致位移传感器的多点位移测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921295308.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-09
授权号 ：
CN210426413U
授权日 ：
2020-04-28
发明人 ：
谭斌赵初林雷霆沈省三赵营海
申请人 ：
基康仪器股份有限公司
申请人地址 ：
北京市房山区良乡凯旋大街滨河西街3号
代理机构 ：
北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司
代理人 ：
高丽萍
优先权 ：
CN201921295308.8
主分类号 ：
G01B7/02
IPC分类号 ：
G01B7/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B7/00
以采用电或磁的方法为特征的计量设备
G01B7/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2020-04-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN210426413U.PDF
PDF下载
