用于检测与光电检测器相关联的电路内的堆积的装置
避免重复授权放弃专利权
摘要
本公开的实施例涉及用于检测与光电检测器相关联的电路内的堆积的装置。该装置包括输入端子，其被配置为接收多个光电检测器输出。OR树与电路并联耦合，该电路与光电检测器相关联。OR树具有耦合到输入端子的输入，并且被配置为组合光电检测器输出。计数器被配置为对OR树的输出进行计数。比较器被配置为将计数器的输出与确定的阈值进行比较，其中比较器被配置为基于计数器的输出大于或等于确定的阈值来输出指示与光电检测器相关联的电路内的堆积的指示符。
基本信息
专利标题 ：
用于检测与光电检测器相关联的电路内的堆积的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921297722.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-12
授权号 ：
CN211553064U
授权日 ：
2020-09-22
发明人 ：
J·K·莫雷
申请人 ：
意法半导体(R&D)有限公司
申请人地址 ：
英国白金汉郡
代理机构 ：
北京市金杜律师事务所
代理人 ：
王茂华
优先权 ：
CN201921297722.2
主分类号 ：
G01J1/44
IPC分类号 ：
G01J1/44
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
G01J1/42
采用电辐射检测器
G01J1/44
电路
法律状态
2022-03-15 ：
避免重复授权放弃专利权
避免重复授予专利权IPC(主分类) : G01J 1/44
申请日 : 20190812
授权公告日 : 20200922
放弃生效日 : 20220315
申请日 : 20190812
授权公告日 : 20200922
放弃生效日 : 20220315
2020-09-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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