一种薄膜电容频率温升检测装置
授权
摘要

本实用新型涉及电容检测设备技术领域,且公开了一种薄膜电容频率温升检测装置,包括检测箱本体,所述检测箱本体的正面固定安装有显示屏,所述检测箱本体的正面且位于显示屏的下方固定安装有指示灯,所述检测箱本体的正面且位于显示屏的右侧固定安装有调节旋钮,所述检测箱本体的正面且位于调节旋钮的下方固定安装有控制按钮,所述检测箱本体的顶部固定安装有基板。该薄膜电容频率温升检测装置,通过启动风机和电磁阀打开,风机通过滤箱和软管将外界冷空气抽入均分管和分隔箱内部,并对分隔箱进行散热,防止分隔箱内部热量过多对后续检测产生影响导致检测数据偏差过大的情况发生,达到高精度检测的效果,从而提高了该检测装置的实用性。

基本信息
专利标题 :
一种薄膜电容频率温升检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921316238.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-08-14
授权号 :
CN211123064U
授权日 :
2020-07-28
发明人 :
管在年刘长超丁霞梅徐德兵谢德龙
申请人 :
扬州高强电子有限公司
申请人地址 :
江苏省扬州市高邮市开发区长兴路
代理机构 :
北京科家知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
艾秀丽
优先权 :
CN201921316238.X
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2020-07-28 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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