LED支架缺陷取像装置及检测设备
授权
摘要
本实用新型提供一种LED支架缺陷取像装置，包括：主支撑柱；横梁，与主支撑柱上部固定连接；光源支架，与所述主支撑柱下部交叉滑动连接；光源连接件，与所述光源支架水平滑动连接；光源，与所述光源连接件旋转连接，用于为LED支架补光；相机支架，与所述横梁交叉滑动连接；相机，与所述相机支架旋转连接，用于对预设承托平面上的LED支架的除具有镜面反射光的区域进行取像。本实用新型LED支架缺陷取像装置通过使相机在LED支架镜面反射光范围之外进行取像，突出了注塑部分的图像，更有利于对注塑部分的缺陷检测。
基本信息
专利标题 ：
LED支架缺陷取像装置及检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921330361.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-16
授权号 ：
CN210572007U
授权日 ：
2020-05-19
发明人 ：
薛春花陈润康张春平林淼陈志列
申请人 ：
研祥智能科技股份有限公司;研祥智慧物联科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市光明新区高新路11号研祥智谷创祥地1号5楼
代理机构 ：
北京兰亭信通知识产权代理有限公司
代理人 ：
赵永刚
优先权 ：
CN201921330361.7
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2020-05-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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