一种物位仪表校验装置

专利权的终止

摘要

本实用新型公开了一种物位仪表校验装置，包括滑移轨道机构、滑移驱动机构、通用仪表安装机构以及反射板机构；滑移驱动机构包括滑移驱动丝杆、驱动电机以及电机减速器；反射板机构包括滑移支撑板、板支架以及反射板；仪表安装机构包括纵向安装梁、竖向方柱、仪表放置板、升降驱动组件以及夹持驱动组件。该物位仪表校验装置利用滑移驱动丝杆来驱动反射板进行精确位移驱动，能够有效提高反射板的位移分辨率；利用反射板四周边缘设置的圆弧倒角，能够降低边沿反射，减少因为边缘的阻抗突变导致的电磁波反射；利用升降驱动组件能够对待校验仪表进行夹持，且通过调节使得待校验仪表的发射信号靠近反射板的中心。

基本信息

专利标题：

一种物位仪表校验装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921350159.0

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-08-20

授权号：

CN210221215U

授权日：

2020-03-31

发明人：

冯齐斌章天霈洪扁张忠立张振彦秦亭亭徐煦

申请人：

上海市计量测试技术研究院

申请人地址：

上海市静安区长乐路1226号

代理机构：

南京北辰联和知识产权代理有限公司

代理人：

于忠洲

优先权：

CN201921350159.0

主分类号：

G01F25/00

IPC分类号：

G01F25/00