一种自动高斯测试仪
授权
摘要

本实用新型涉及一种自动高斯测试仪,包括基座,所述基座的表面固定有工装夹盘固定架,所述工装夹盘固定架上设有三爪卡盘体,所述工装夹盘固定架与三爪卡盘体之间设有推力轴承,工装夹盘固定架的上表面以及三爪卡盘体的下表面分别与推力轴承固接,工装夹盘固定架与三爪卡盘体通过推力轴承转动连接,所述基座上位于工装夹盘固定架的下方固定有运转驱动电机,运转驱动电机的输出端与三爪卡盘体固接,所述基座表面位于工装夹盘固定架的一侧固定有电机固定架,电机固定架上固定有电机驱动系统,所述电机驱动系统上固定有高斯探头,高斯探头上固定有距离传感器。

基本信息
专利标题 :
一种自动高斯测试仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921370836.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-08-22
授权号 :
CN211086566U
授权日 :
2020-07-24
发明人 :
马信国
申请人 :
昆山欧标仪器有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市昆山市张浦镇南港新南路53号
代理机构 :
天津展誉专利代理有限公司
代理人 :
陈欣
优先权 :
CN201921370836.5
主分类号 :
G01R33/07
IPC分类号 :
G01R33/07  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
G01R33/02
测量磁场或磁通量的方向或大小
G01R33/06
采用电磁器件
G01R33/07
霍耳效应器件
法律状态
2020-07-24 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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