一种用于金属金相检测的支撑底座
专利权的终止
摘要

本实用新型提供一种用于金属金相检测的支撑底座,涉及金相检测领域。该用于金属金相检测的支撑底座,包括底架,所述底架的上表面设置有凸块,所述底架的上表面开设有杆槽,所述底架的一侧设置有转动块,所述底架的底部固定安装有第一伸缩杆,所述第一伸缩杆的底部固定安装有吸盘。该用于金属金相检测的支撑底座,通过设置有凸块,可对支撑杆起到限位作用,方便调节高度,通过开设有杆槽,当支撑杆收起时可放置在内,节省了空间,通过第一伸缩杆配合吸盘,可增加此支撑底座的抓地力,第一伸缩杆起到支撑作用的同时还可调节此支撑底座的倾斜度,通过设置有把手,把手分为上把手和下把手两部分,起到了便于携带的作用。

基本信息
专利标题 :
一种用于金属金相检测的支撑底座
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921383489.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-08-24
授权号 :
CN210322762U
授权日 :
2020-04-14
发明人 :
马途丽
申请人 :
马途丽
申请人地址 :
贵州省遵义市红花岗区虾子镇贵州航天精工制造有限公司新址
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN201921383489.X
主分类号 :
G01N21/01
IPC分类号 :
G01N21/01  G01N21/84  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2021-08-06 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01N 21/01
申请日 : 20190824
授权公告日 : 20200414
终止日期 : 20200824
2020-04-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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