一种用于荧光分光光度计的进样试管架
授权
摘要
本实用新型提供一种用于荧光分光光度计的进样试管架，包括底座，底座的上端两侧对称设有壳体，壳体的内部设有升降装置，升降装置的上端连有支架，支架的上端贯穿壳体并位于壳体的外部，两支架之间的顶部固定有支撑板，底座的上表面两壳体之间设有放置座，放置座的上表面设有若干放置试管的凹槽，凹槽的内部均设有夹持试管的夹持装置，支撑板上设有若干与凹槽对应的通孔，通孔的两侧内壁上均设有若干第二弹簧，第二弹簧的另一端连有第二夹持板。本实用新型提供的进样试管架不仅可以根据试管的高度进行调节，还能适用于不同直径的试管，使用效果较好。
基本信息
专利标题 ：
一种用于荧光分光光度计的进样试管架
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921392765.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-26
授权号 ：
CN210923476U
授权日 ：
2020-07-03
发明人 ：
刘士旭
申请人 ：
伊普希龙（天津）科技有限公司
申请人地址 ：
天津市滨海新区华苑产业区(环外)海泰发展二路3号办公楼一层105-1
代理机构 ：
天津市新天方专利代理有限责任公司
代理人 ：
张永芬
优先权 ：
CN201921392765.9
主分类号 ：
G01N21/64
IPC分类号 ：
G01N21/64 G01N21/31 G01N21/01 B01L9/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光；磷光
法律状态
2020-07-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
