一种光学全检手机前壳平面度装置
授权
摘要
本实用新型涉及手机制造领域，具体涉及一种光学全检手机前壳平面度装置，包括滑动安装在机架上的横移支架，所述横移支架上设置有3D扫描头，还包括与3D扫描头配合使用的3D建模处理单元；所述机架上设置有定位待测产品的定位治具，待测产品安装在定位治具上后位于3D扫描头的扫描范围内。本实用新型的优点在于：相对于现有技术中人工检测，减轻了人工劳动强度，同时误差也较小，效率较高，同时节省了大量人工成本，总体成本较低。
基本信息
专利标题 ：
一种光学全检手机前壳平面度装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921396228.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-26
授权号 ：
CN210570546U
授权日 ：
2020-05-19
发明人 ：
蔡任初吕战营赖东阳冯喜庆
申请人 ：
安徽千鑫通讯科技有限公司
申请人地址 ：
安徽省宣城市宁国市宁国经济技术开发区创新北路1号
代理机构 ：
合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
王红太
优先权 ：
CN201921396228.1
主分类号 ：
G01B11/30
IPC分类号 ：
G01B11/30
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/275
••用于检测轮子准直度
G01B11/30
用于计量表面的粗糙度和不规则性
法律状态
2020-05-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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