具有接地点的微波探测器

授权

摘要

本实用新型公开了一具有接地点的微波探测器，其中所述微波探测器包括一辐射缝隙、一参考地、一激励电路和一辐射源，所述辐射源以与所述参考地相平行的方式被间隔地保持于所述参考地的一侧，所述辐射缝隙形成于所述参考地和所述辐射源之间，其中所述辐射源具有一馈电点、至少一左侧接地点以及至少一右侧接地点，所述馈电点偏离于所述辐射源的物理中心点，所述左侧接地点允许所述辐射源的位于零电位点的左侧的位置被接地，相应地，所述右侧接地点允许所述辐射源的位于零电位点的右侧的位置被接地，如此所述微波探测器的辐射能量趋向于均衡分布，以有利于降低所述微波探测器的高次谐波分量。

基本信息

专利标题：

具有接地点的微波探测器

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921400269.3

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-08-26

授权号：

CN210489819U

授权日：

2020-05-08

发明人：

邹高迪邹新

申请人：

深圳迈睿智能科技有限公司

申请人地址：

广东省深圳市宝安区燕罗街道罗田社区象山大道380号3栋2、3楼

代理机构：

宁波理文知识产权代理事务所(特殊普通合伙)

代理人：

李高峰

优先权：

CN201921400269.3

主分类号：

H01Q1/38

IPC分类号：

H01Q1/38 H01Q1/48 H01Q1/50 H01Q1/52 H01Q13/10 H01Q23/00 H01Q1/22 G01S7/03 G01S13/88