一种TFT阵列基板缺陷快速检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种TFT阵列基板缺陷快速检测装置,具体涉及检测领域,包括基座,所述基座顶部固定连接有放置机构,所述基座的内部设有检测机构;所述放置机构包括有放置台,所述放置台的内部设有支撑架。本实用新型在实际使用中通过第一电线与第三电线电连接,进行通电,在基座内设置了液压杆,通过液压杆顶部的弧形铜板表面的接触块与第三电线通电,通过TFT阵列基板本身在上、下两层上都有沟槽,其中上层的沟槽是纵向排列,而下层是横向排列的。当不加电压液晶处于自然状态,从背光源上层发散过来的光线通过夹层之后,会发生90度的扭曲,从而能在下层顺利透过,以此来判断TFT阵列基板有哪些暗病。
基本信息
专利标题 :
一种TFT阵列基板缺陷快速检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921403507.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-08-27
授权号 :
CN210442605U
授权日 :
2020-05-01
发明人 :
王瑾
申请人 :
江苏锦花电子股份有限公司
申请人地址 :
江苏省南京市建邺区扬子江大道399号海峡云谷科技园02栋21层
代理机构 :
南京禾易知识产权代理有限公司
代理人 :
王彩君
优先权 :
CN201921403507.6
主分类号 :
G02F1/1362
IPC分类号 :
G02F1/1362 G02F1/13
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02F
用于控制光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置,例如转换、选通、调制或解调,上述器件或装置的光学操作是通过改变器件或装置的介质的光学性质来修改的;用于上述操作的技术或工艺;变频;非线性光学;光学逻辑元件;光学模拟/数字转换器
G02F1/00
控制来自独立光源的光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置,例如,转换、选通或调制;非线性光学
G02F1/01
对强度、相位、偏振或颜色的控制
G02F1/13
基于液晶的,例如单位液晶显示单元
G02F1/133
构造上的设备;液晶单元的工作;电路装置
G02F1/136
结构上与一半导体层或基片相结合的液晶单元,例如形成集成电路部分的液晶单元
G02F1/1362
有源矩阵寻址单元
法律状态
2020-05-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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