一种高层建筑垂直度测量仪
授权
摘要
本实用新型涉及一种高层建筑垂直度测量仪，解决了目前通过铅锤测量垂直度误差较大的问题。其包括设置于地面上的定位块和设置于楼层上的定位杆，定位杆的下表面设置有基准红外线探头，定位杆的上表面设置有用于控制基准红外线探头的开关，基准红外线探头与开关电连接，定位杆的侧壁上设置有刻度尺，刻度尺的零刻度线与基准红外线探头相重合，定位块的上表面设置有与基准红外线探头相配合的基准点。本实用新型通过基准红外线探头进行测量能够避免受到风力等外界因素的干扰，提高了测量的精准度。
基本信息
专利标题 ：
一种高层建筑垂直度测量仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921418231.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-28
授权号 ：
CN210638700U
授权日 ：
2020-05-29
发明人 ：
李泽波陈淮松李宜欣
申请人 ：
深圳金广源建设有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙岗区坪地街道怡心社区龙岗大道坪地段2019号101
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201921418231.9
主分类号 ：
G01C15/00
IPC分类号 ：
G01C15/00 G01C15/12 G01C9/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01C
测量距离、水准或者方位；勘测；导航；陀螺仪；摄影测量学或视频测量学
G01C15/00
不包括在G01C1/00至G01C13/00各组的测量器械或部件
法律状态
2020-05-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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