一种用于射频继电器机械寿命的测试系统
授权
摘要

本实用新型提出了一种用于射频继电器机械寿命的测试系统,包括电源模块、射频端口、电压模拟信号采样转换模块、单片机处理器模块及显示器模块,所述电压模拟信号采样模块通过所述射频端口采集待测射频继电器输出模拟信号电压并转换为数字信号电压,所述单片机处理器模块接收所述数字信号电压处理成显示信号并传送到所述显示器模块进行显示,所述电源模块、电压模拟信号采样转换模块及显示器模块均与所述单片机处理器模块电连接。本实用新型的用于射频继电器机械寿命的测试系统不仅可以准确监控射频继电器触点是否完全闭合,还可以切换针对不同型号的射频继电器的测试,实现了多路测试,提高了测试的效率、降低了测试成本。

基本信息
专利标题 :
一种用于射频继电器机械寿命的测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921432703.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-08-30
授权号 :
CN210572620U
授权日 :
2020-05-19
发明人 :
黄卫豪罗天福赖麒军
申请人 :
深圳市西科技术有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市光明新区光明街道高新西路11号研祥科技工业园U立方1楼A区
代理机构 :
北京盛凡智荣知识产权代理有限公司
代理人 :
戴秀秀
优先权 :
CN201921432703.6
主分类号 :
G01R31/327
IPC分类号 :
G01R31/327  G01M13/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/327
•电路断续器、开关或电路断路器的测试
法律状态
2020-05-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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