检测电路以及电子设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种检测电路以及电子设备，所述检测电路包括信号处理模块，以及分别与所述信号处理模块连接的欠压检测模块和过压检测模块，所述信号处理模块包括检测结果输出端；所述欠压检测模块，用于接收第一待检测电压信号，并在所述第一待检测电压信号异常时输出第一异常信号；所述过压检测模块，用于接收第二待检测电压信号，并在所述第二待检测电压信号异常时输出第二异常信号；所述信号处理模块，用于在接收到所述第一异常信号和/或第二异常信号时，对所述第一异常信号和/或第二异常信号进行处理，通过检测结果输出端输出异常电平信号，从而提高检测电路灵活性，有效降低产品的硬件成本和设计复杂程度。
基本信息
专利标题 ：
检测电路以及电子设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921441854.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-30
授权号 ：
CN210720608U
授权日 ：
2020-06-09
发明人 ：
李传平
申请人 ：
TCL通力电子（惠州）有限公司
申请人地址 ：
广东省惠州市仲恺高新区37号小区
代理机构 ：
深圳市世纪恒程知识产权代理事务所
代理人 ：
宋朝政
优先权 ：
CN201921441854.8
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R31/40 G01R19/165
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-06-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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