一种高频电磁辐射分析仪的握持结构

授权

摘要

本实用新型涉及一种高频电磁辐射分析仪的握持结构，属于辐射分析设备的技术领域，其技术方案要点，包括：分析仪本体；以及安装在所述分析仪本体顶部的感应探头，所述分析仪本体的外侧设置有容置所述分析仪本体的握持件，所述握持件包括握持外壳；呈对称设置在所述握持外壳两侧的握持凸块；以及用于容置所述分析仪本体的容置腔，所述容置腔开设在所述握持外壳内，所述握持外壳上还设置有用于将所述分析仪本体固定的紧固件。本实用新型具有减缓使用者在使用过程中的疲劳感觉，同时方便使用者对该设备进行操作的效果。

基本信息

专利标题：

一种高频电磁辐射分析仪的握持结构

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921450810.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-09-02

授权号：

CN211014363U

授权日：

2020-07-14

发明人：

孙鸿君朱蓓雷彬

申请人：

武汉网绿环境技术咨询有限公司

申请人地址：

湖北省武汉市江汉区新华下路姑嫂树村新华家园二区8幢1单元14层1号

代理机构：

代理人：

优先权：

CN201921450810.1

主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R1/04 G01R29/08