一种光发射组件直流电压和电阻测试系统
授权
摘要
本实用新型提供一种光发射组件直流电压和电阻测试系统，属于激光器测试领域。本实用新型包括客户端、万用表、温控装置、电源和测试装置，其中，所述客户端分别与万用表、温控装置、电源和测试装置相连，所述测试装置包括MCU、与MCU输出端相连的若干个分别与待测组件的RF PAD和DC PAD各个引脚相连的开关装置，所述万用表和电源分别通过开关装置与待测组件相连，所述客户端通过MCU控制开关装置连接万用表和待测组件不同的引脚,从而实现对不同测试项的测试。本实用新型的有益效果为：操作简单，效率高，整个过程无人工干预，可靠性高。
基本信息
专利标题 ：
一种光发射组件直流电压和电阻测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921452821.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-03
授权号 ：
CN210982607U
授权日 ：
2020-07-10
发明人 ：
席鑫
申请人 ：
深圳市极致兴通科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区福海街道和平社区重庆路骏丰工业园厂房13栋A1
代理机构 ：
深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙)
代理人 ：
赵雪佳
优先权 ：
CN201921452821.3
主分类号 ：
G01R27/02
IPC分类号 ：
G01R27/02 G01R15/12 G01M11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
法律状态
2020-07-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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