一种高精度绝对位置测量系统
授权
摘要
本实用新型提供了一种高精度绝对位置测量系统，该述系统包括：测量模块，用于测量待测物的移动数据；数据处理模块，用于接收测量模块输出的待测物的移动数据，并对其进行处理，获得待测物的绝对位置数据；所述测量模块与所述数据处理模块连接；所述测量模块包括：第一传感器、第二传感器；该述第一传感器包括第一静止部和第一运动部；所述第一静止部和第一运动部滑动连接；该述第二传感器包括第二静止部和第二运动部；所述第二静止部和第二运动部滑动连接；该述第一运动部与所述第二运动部设置于所述待测物上，并随着所述待测物同步运动。与现有技术相比，本实用新型的技术方案结构简单，性能稳定，成本低，功耗小。
基本信息
专利标题 ：
一种高精度绝对位置测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921467559.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-04
授权号 ：
CN211346838U
授权日 ：
2020-08-25
发明人 ：
赵洪涛王宏松
申请人 ：
上海潜龙电子科技有限公司
申请人地址 ：
上海市闵行区剑川路951号5幢6层B6003室
代理机构 ：
上海汉声知识产权代理有限公司
代理人 ：
胡晶
优先权 ：
CN201921467559.X
主分类号 ：
G01D5/347
IPC分类号 ：
G01D5/347
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01D
非专用于特定变量的测量；不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置；计费设备；非专用于特定变量的传输或转换装置；未列入其他类目的测量或测试
G01D5/00
用于传递传感构件的输出的机械装置；将传感构件的输出变换成不同变量的装置，其中传感构件的形式和特性不限制变换装置；非专用于特定变量的变换器
G01D5/26
采用光学装置，即应用红外光、可见光或紫外光
G01D5/32
利用光束的减弱或者全部或局部的闭塞
G01D5/34
利用光电元件检测光束
G01D5/347
利用位移编码度盘
法律状态
2020-08-25 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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