用于检测光的装置
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摘要
本公开的各实施例涉及用于检测光的装置。一种装置，包括至少一个检测器，该至少一个检测器被配置为从检测器视场内的对象接收返回光，光由光源生成。检测器包括第一光敏区域和第二光敏区域，第一光敏区域和第二光敏区域被配置为接收来自光源的返回光。包括至少一个非光敏区域，并且第一光敏区域和第二光敏区域被至少一个非光敏区域分离。至少一个非光敏区域与第一光敏区域或第二光敏区域中的一个光敏区域相关联。
基本信息
专利标题 ：
用于检测光的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921472310.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-05
授权号 ：
CN211061698U
授权日 ：
2020-07-21
发明人 ：
D·哈尔B·雷
申请人 ：
意法半导体(R&D)有限公司
申请人地址 ：
英国白金汉郡
代理机构 ：
北京市金杜律师事务所
代理人 ：
王茂华
优先权 ：
CN201921472310.8
主分类号 ：
G01S17/08
IPC分类号 ：
G01S17/08 G01S7/4863 G01J1/44
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01S
无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置
G01S17/00
应用除无线电波外的电磁波的反射或再辐射系统，例如，激光雷达系统
G01S17/02
应用除无线电波外的电磁波反射的系统
G01S17/06
测定目标位置数据的系统
G01S17/08
只用于测量距离
法律状态
2020-07-21 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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