一种光照频闪检测设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种光照频闪检测设备,包括探测器结构和电子部件结构，所述探测器结构包括带有外螺纹的圆柱主体、感光元件PCBA、均光片和压紧盖，圆柱主体为中空结构设置，内部形成一供感光元件PCBA走线的中空导线槽，圆柱主体的开口中形成一向内扩大一圈的安装槽，感光元件PCBA安装于安装槽中，均光片安装于圆柱主体的表面上，并将所述的感光元件PCBA罩住，压紧盖的内壁面上设有内螺纹，压紧盖通过内螺纹与圆柱主体上的外螺纹啮合连接，压紧盖将所述的均光片压紧固定。本实用新型结构简单，不需专业仪器的复杂结构；可同时得出光照频闪和光照强度；直接减少硬件电路的复杂度。
基本信息
专利标题 ：
一种光照频闪检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921491317.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-09
授权号 ：
CN210268915U
授权日 ：
2020-04-07
发明人 ：
徐国想
申请人 ：
深圳市友衡科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区桃源街道平山大园工业区14栋5楼502室
代理机构 ：
深圳市卓科知识产权代理有限公司
代理人 ：
邵妍
优先权 ：
CN201921491317.4
主分类号 ：
G01J9/00
IPC分类号 ：
G01J9/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J9/00
测量光学相位差；测定相干性的程度；测量光学波长
法律状态
2020-04-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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