玻璃基板检知装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种玻璃基板检知装置,包括:固定座,所述固定座呈L型,所述固定座上设有凹槽;第一固定件,所述第一固定件设置在所述凹槽内,所述第一固定件露出所述凹槽一端上设有第一凸块,所述第一凸块靠近所述固定座设置,所述第一固定件的另一端上设有第二凸块,所述第二凸块内部设有传感器,所述第一固定件内还设有第一磁铁;测头组件,所述测头组件包括设置第二固定件远离所述第二凸块的一端通过转轴固定在所述第一固定件上,所述第二固定件内设有第二磁铁,所述第二固定件的另一端固定有用于传输所述玻璃基板的滑轮;所述第一磁铁和所述第二磁铁互相靠近的两个磁场相异。其通过利用磁铁异性相吸原理,使测头更好的复归至原点。

基本信息
专利标题 :
玻璃基板检知装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921505867.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-09-11
授权号 :
CN210774127U
授权日 :
2020-06-16
发明人 :
陈宽政
申请人 :
亚智系统科技(苏州)有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市高新区科技城嘉陵江路405号
代理机构 :
广州市红荔专利代理有限公司
代理人 :
胡昌国
优先权 :
CN201921505867.7
主分类号 :
G01D21/00
IPC分类号 :
G01D21/00  B65G49/06  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01D
非专用于特定变量的测量;不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置;计费设备;非专用于特定变量的传输或转换装置;未列入其他类目的测量或测试
G01D21/00
未列入其他类目的测量或测试
法律状态
2020-06-16 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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