一种实验室用电子精密天平
授权
摘要
本实用新型包括天平基台和设置在天平基台上表面的秤盘，以及罩在秤盘外围的防护罩组件。防护罩组件包括可上、下折叠的防护罩体和设置在防护罩体顶部的顶板，防护罩体的外侧均匀分布有底部固定在天平基台上的伸缩杆，顶板的外侧通过连杆分别与伸缩杆的顶部相连，天平基台的上表面设置有安装槽，防护罩体的底部安装在安装槽内并利用压条固定，顶板的中间设置有置物口。
基本信息
专利标题 ：
一种实验室用电子精密天平
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921515631.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-11
授权号 ：
CN210180534U
授权日 ：
2020-03-24
发明人 ：
翁美郑舟军
申请人 ：
浙江海洋大学东海科学技术学院
申请人地址 ：
浙江省舟山市定海区昌国街道海院路18号
代理机构 ：
浙江千克知识产权代理有限公司
代理人 ：
贾森君
优先权 ：
CN201921515631.1
主分类号 ：
G01G21/28
IPC分类号 ：
G01G21/28 G01G21/30 G01G21/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01G
称量
G01G21/00
称量仪器的零部件
G01G21/28
框架；外罩
法律状态
2020-03-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
