电子产品键帽对位检测置具
授权
摘要
本实用新型公开一种电子产品键帽对位检测置具，包括有底座和上盖；该底座的顶面凹设有一凹腔，该凹腔内具有一用于固定电子产品的安装工位；该上盖封盖于底座的顶面，且上盖的上下表面贯穿有多个与电子产品之键帽上的图案相适配的检测孔，多个检测孔与安装工位上下正对。通过将电子产品固定在底座的安装工位上，再将上盖封盖在安装工位的上方，且上盖上的多个检测孔与电子产品中的多个键帽上的对应图案一一对应，即多个检测孔与电子产品是相对固定的，其相较传统的检测方法，其大大提高了检测效率，检测更加容易。
基本信息
专利标题 ：
电子产品键帽对位检测置具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921541750.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-17
授权号 ：
CN210570487U
授权日 ：
2020-05-19
发明人 ：
白毅松吴磊
申请人 ：
东莞万德电子制品有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市东城区温塘管理区皂一（1）村
代理机构 ：
厦门市新华专利商标代理有限公司
代理人 ：
彭长久
优先权 ：
CN201921541750.4
主分类号 ：
G01B11/00
IPC分类号 ：
G01B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2020-05-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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