圆柱状电子组件径向冲击加载测试装置
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种圆柱状电子组件径向冲击加载测试装置,包括冲击衬套和压装件,冲击衬套内具有沿其长度方向设置的冲击腔,该冲击腔一端敞口,并且截面为圆形,冲击腔的侧壁上具有沿其长度方向设置的引线窗口;压装件的外径小于等于冲击腔的直径,其内具有用于固定待测电子组件的安装腔,该安装腔的轴线与压装件的轴线相互垂直,所述压装件的侧壁上具有与该安装腔贯通的引线穿出孔。可充分模拟冲击载荷转化过程,并通过测试数据线进行实时测量电子组件的电学信号,掌握其在转化径向载荷作用下响应特性,在有效缩减测试成本同时提升测试效率和精度,是理论研究的基础,能够为后续设计研究提供重要参数,具有极大的科学实验研究价值。

基本信息
专利标题 :
圆柱状电子组件径向冲击加载测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921557834.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-09-18
授权号 :
CN210603809U
授权日 :
2020-05-22
发明人 :
杨荷赵慧刘波吴学星
申请人 :
中国工程物理研究院电子工程研究所
申请人地址 :
四川省绵阳市游仙区919信箱521分箱
代理机构 :
重庆为信知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
王玉杰
优先权 :
CN201921557834.7
主分类号 :
G01M7/08
IPC分类号 :
G01M7/08  G01R31/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M7/08
•冲击测试
法律状态
2021-08-27 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01M 7/08
申请日 : 20190918
授权公告日 : 20200522
终止日期 : 20200918
2020-05-22 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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