一种荧光膜检测设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种荧光膜检测设备。所述荧光膜检测设备包括，用于发出测试荧光膜用光线的光源，所述光源通过伸展臂安装于机架；用于收集光线的积分球，所述积分球位于光源的正上方并安装于机架；所述积分球于光源之间设置有荧光膜运动空间，使荧光膜的荧光粉区域能够位于光源和积分球之间，积分球能够收集光源发出的且穿过荧光膜的光线；用于放置荧光膜的载片部，所述载片部通过多个支撑柱连接于固定在机架上的XY平台；所述多个支撑柱分布于荧光膜左侧，所述安装有光源的伸展臂沿平行于荧光膜左右方向最大尺寸安装于荧光膜右侧；支撑柱不影响光源到达荧光粉区域任意位置，载片部体积小。
基本信息
专利标题 ：
一种荧光膜检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921570901.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-20
授权号 ：
CN210894115U
授权日 ：
2020-06-30
发明人 ：
刘振辉庞华贵林港睿李方蔺龙
申请人 ：
矽电半导体设备（深圳）股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙岗区龙城街道黄阁坑社区龙城工业园3号厂房三楼东区、五楼中西区
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201921570901.9
主分类号 ：
G01N21/64
IPC分类号 ：
G01N21/64 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光；磷光
法律状态
2020-06-30 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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