一种测量盲孔深度的量测装置
授权
摘要
本实用新型提供的一种测量盲孔深度的量测装置，包括测量数据读取装置、量测杆和测量底座，所述量测杆和测量数据读取装置均安装在所述测量底座上，所述量测杆能够用于插入盲孔中对盲孔深度进行测量；所述测量底座能够在所述量测装置测量时定位所述量测装置的位置，所述测量底座具有本体和定位部，所述量测杆贯穿所述本体和所述定位部，所述定位部的截面宽度沿着所述量测杆的长度方向逐渐变小，所述定位部的横截面为三角形。本实用新型装置上的测量底座在测量时能够通过其定位部上的尖角与盲孔入口所在的平面形成线接触，使得定位部无限接近于盲孔入口所在的平面，进而提高测量精度。
基本信息
专利标题 ：
一种测量盲孔深度的量测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921591783.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-24
授权号 ：
CN210603114U
授权日 ：
2020-05-22
发明人 ：
沃林尉志超
申请人 ：
苏州英示测量科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市高新区向阳路80号
代理机构 ：
苏州隆恒知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
周子轶
优先权 ：
CN201921591783.X
主分类号 ：
G01B5/18
IPC分类号 ：
G01B5/18
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
G01B5/18
用于计量深度
法律状态
2020-05-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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