一种半导体芯片引脚检查辅助装置
授权
摘要
本实用新型属于半导体加工技术领域，提供了一种半导体芯片引脚检查辅助装置，用于连接一视觉图形检测系统来对半导体芯片引脚进行检查，其包括圆形转盘和设置在该圆形转盘上的负压抓取工位，由负压抓取工位从第一传送通道抓取芯片供视觉图形检测系统进行检测，然后根据检测结果再由负压抓取工位放入第二传送通道或第三传送通道，通过本实用新型提供的辅助装置，可以对半导体芯片进行自动抓取供视觉图像检测系统，并且根据检测结果可以对半导体芯片进行分类输出，从而避免了人工的参与，且提高了检测效率。
基本信息
专利标题 ：
一种半导体芯片引脚检查辅助装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921602506.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-24
授权号 ：
CN210005419U
授权日 ：
2020-01-31
发明人 ：
李晶卢红亮李勇刚蒋镄铠
申请人 ：
四川矽芯微科技有限公司
申请人地址 ：
四川省遂宁市射洪县经济开发区河东大道88号
代理机构 ：
成都玖和知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
胡琳梅
优先权 ：
CN201921602506.4
主分类号 ：
G01N21/01
IPC分类号 ：
G01N21/01 G01N21/84 G01N21/95
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2020-01-31 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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