一种测量键槽对称度的量规装置

授权

摘要

本实用新型提供的一种测量键槽对称度的量规装置，包括倾斜设置的量规本体，所述量规本体一侧的斜面上设有能够沿着所述量规本体斜面移动的安装座，所述安装座上可拆卸安装有用于固定工件的固定块，所述固定块包括安装在所述安装座上的连接部和卡设在工件键槽内的卡紧部，所述卡紧部具有开口槽，所述卡紧部的开口槽内设有能够使得所述卡紧部逐渐膨胀的调节块；所述量规本体上安装有量测表，所述量测表上包括测头，所述测头的中心轴线垂直于所述固定块的中心轴线。本实用新型装置能够精确检测出圆柱形或球形工件上键槽的对称度，方便快捷，测量精度高。

基本信息

专利标题：

一种测量键槽对称度的量规装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921603412.9

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-09-24

授权号：

CN210603141U

授权日：

2020-05-22

发明人：

沃林尉志超

申请人：

苏州英示测量科技有限公司

申请人地址：

江苏省苏州市高新区向阳路80号

代理机构：

苏州隆恒知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

周子轶

优先权：

CN201921603412.9

主分类号：

G01B5/25

IPC分类号：

G01B5/25 G01B5/08