一种轴的校正检测装置
授权
摘要
本申请中所述的一种轴的校正检测装置，用于检测并校正轴体(10)的直线度，其包括：基座(1)，用于支撑轴体(10)进行检测及校正的总体，其上分别设有用于轴体(10)的基准机构、校正机构及检测机构；其中，支撑件(2)，其沿着轴体(10)的两侧部布置，形成支撑轴体(10)进行检测的基准机构；校正件(3)，其沿着轴体(10)的外侧设置，可伸缩抵触于轴体(10)的表面上；检测部(4)，其沿着两支撑件(2)间的轴体(10)外侧安装于基座(1)上；具有设置整体结构简单的装置，成本低，仅需将轴体(10)摆设于支撑件(2)上旋转即可实现时时检测与校正的效果。
基本信息
专利标题 ：
一种轴的校正检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921623569.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-27
授权号 ：
CN210513542U
授权日 ：
2020-05-12
发明人 ：
戴齐成唐利琦潘莉
申请人 ：
上海广野金属有限公司
申请人地址 ：
上海市松江区新桥镇华民路18号
代理机构 ：
杭州赛科专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
韩德祯
优先权 ：
CN201921623569.8
主分类号 ：
G01M1/30
IPC分类号 ：
G01M1/30
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M1/16
••通过被测物体的振荡或旋转
G01M1/30
补偿不平衡
法律状态
2020-05-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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