GIL设备单元特高频信号衰减量测试平台
授权
摘要
本实用新型公开了一种GIL设备单元特高频信号衰减量测试平台，包括若干形态试验单元、特高脉冲信号发生器和局部放电监测系统；形态试验单元包括第一直筒I型形态试验单元、L型形态试验单元、T型形态试验单元、第二直筒I型形态试验单元；形态试验单元包括GIL单元，GIL单元中的母线筒外壳设置有内置式特高频局部放电传感器；本测试平台的特高脉冲信号发生器按需接入形态试验单元的内置式特高频局部放电传感器，通过局部放电监测系统记录各形态试验单元的内置式特高频局部放电传感器的输出响应并保存图谱信息。本装置可根据试验结果获得特高频信号的衰减量，合理制定出现场传感器的布置原则，可有效提高内置式特高频局部放电传感器的预警能力。
基本信息
专利标题 ：
GIL设备单元特高频信号衰减量测试平台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921623997.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-26
授权号 ：
CN211698050U
授权日 ：
2020-10-16
发明人 ：
黎卫国黄大为张长虹杨旭黄忠康楚金伟
申请人 ：
中国南方电网有限责任公司超高压输电公司检修试验中心
申请人地址 ：
广东省广州市萝岗区科学城科学大道223号2号楼检修试验中心
代理机构 ：
广州科粤专利商标代理有限公司
代理人 ：
黄培智
优先权 ：
CN201921623997.0
主分类号 ：
G01R31/12
IPC分类号 ：
G01R31/12 G01R19/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/12
•测试介电强度或击穿电压
法律状态
2020-10-16 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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