一种扫描隧道显微镜探头的双层样品台
授权
摘要
本实用新型公开了一种扫描隧道显微镜探头的双层样品台，属于扫描隧道显微镜领域，包括上层样品架和下层样品架，上层样品架上设置缺口，下层样品架设置于缺口嵌套的凸起，上层样品架非缺口处用于放置辅助样品，下层样品架的凸起放置目标样品，上层样品架和下层样品架的水平间隔小于等于针尖的最大水平移动量；放置辅助样品的上层样品架与放置目标样品的下层样品架的高度差小于等于针尖的最大竖直移动量；需要对针尖进行特殊处理时，通常为修饰，可通过上层样品架上放置对应的辅助样品进行操作，本实用新型节省了频繁放置辅助样品浪费的时间和精力，提高了STM实验的效率。
基本信息
专利标题 ：
一种扫描隧道显微镜探头的双层样品台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921626450.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-27
授权号 ：
CN211086346U
授权日 ：
2020-07-24
发明人 ：
付英双廖心张文号
申请人 ：
华中科技大学
申请人地址 ：
湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
代理机构 ：
华中科技大学专利中心
代理人 ：
曹葆青
优先权 ：
CN201921626450.6
主分类号 ：
G01Q60/16
IPC分类号 ：
G01Q60/16 H01J37/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01Q
扫描探针技术或设备；扫描探针技术的应用，例如，扫描探针显微术
G01Q60/00
特殊类型的SPM或其设备；其基本组成
G01Q60/10
STM或其设备，例如STM探针
G01Q60/16
探针，其制造或有关的使用仪器，例如支撑物
法律状态
2020-07-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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